FPGA片内PLL电磁抗扰度的热应力效应研究与测试分析

时间:2025-11-01  作者:Diven  阅读:0

片内PLL设计是IC设计中的一个重要环节,在无线通信、高频通信和数字通信等领域PLL的使用占据重要地位。本文以Cyclone IV系列EP4CE15F17C8N型FPGA为研究对象,其包含四个通用的PLL,分别位于芯片的四个边角,采用独立的2.5V电压供电。

FPGA片内PLL电磁抗扰度的热应力效应研究与测试分析

审核编辑:黄飞

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